• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
搜索

Author:

刘秀成 (刘秀成.) | 马坤 (马坤.) | 王磊 (王磊.) | 尚万里 (尚万里.) | 吴斌 (吴斌.) | 何存富 (何存富.) (Scholars:何存富)

Indexed by:

CQVIP CSCD

Abstract:

表面切向磁场强度是微磁检测中磁特征信号的重要解析标度,其测量精度直接影响微磁检测结果的精度.提出利用霍尔元件阵列同步测取不同提离位置的切向磁场强度,基于线性外推原理准确测量表面的切向磁场强度的新方法.采用有限元仿真优化设计出磁场调整结构,放置于微磁传感器U型磁芯内跨距,可降低切向磁场强度沿提离方向的变化速率,提升线性外推法的精度并抑制提离波动对测量结果的影响.在65Mn钢板中进行的实验测试结果表明,相比电流估算法和单一霍尔元件测量法,应用线性外推法时传感器对磁滞回线的测量精度更高.此外,当磁芯与试件表面的提离处于0~0.5mm范围时,应用线性外推法时传感器对65Mn钢板磁特性参数(饱和磁感应强...

Keyword:

切向磁场强度 磁场调整结构 磁滞回线 线性外推法

Author Community:

  • [ 1 ] 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院

Reprint Author's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Source :

应用基础与工程科学学报

Year: 2020

Issue: 01

Volume: 28

Page: 235-245

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count:

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 6

Online/Total:614/10677101
Address:BJUT Library(100 Pingleyuan,Chaoyang District,Beijing 100124, China Post Code:100124) Contact Us:010-67392185
Copyright:BJUT Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd.