Indexed by：
Abstract：
电子玻璃基板是平板显示关键基础材料,随着信息显示产业的发展,TFT-LCD、OLED等显示产品在玻璃表面镀膜刻蚀形成的半导体控制电路越来越精细,在低于玻璃应变点温度进行热处理加工,会导致玻璃结构致密化,使玻璃基板产生收缩效应,称为＂再热收缩＂。重点介绍了电子玻璃基板再热收缩率7种测试表征方法,包括密度法、拉丝法、模拟法、比长法、压痕法、膨胀仪法和激光法,并且对每种方法的测试原理、优缺点进行分析和阐述,综合而言,比长法和膨胀仪法可用于测量精度要求不高的玻璃品种,而激光法是最为精确和可靠的测量方法,可满足LTPS制程玻璃品种的再热收缩率测量。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
玻璃搪瓷与眼镜
Year： 2020
Issue： 03
Volume： 48
Page： 41-47
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 11
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 12
Affiliated Colleges：
