Indexed by：
Abstract：
本文采用FIB辐照样品表面和FIB提取样品截面两种方法,尝试获取Ag@SiO_x自组织结构的内部结构信息,分别得到柱状结构和核壳结构两种完全不同的结果。其中提取截面的方法可以在保留样品初始形貌的同时获取真实内部结构信息,结合EDS能谱,可以确定,半球状SiO_x颗粒包覆在实心银椭球体上表面,Ag@SiO_x自组织结构是一种粒子包覆型核壳结构。有序柱状结构并不反映样品真实内部结构,其产生与离子束的选择性刻蚀有关。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
电子显微学报
Year： 2018
Issue： 06
Volume： 37
Page： 585-589
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 5
Affiliated Colleges：
