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王旭 (王旭.) | 杨洪艳 (杨洪艳.) | 袁颖 (袁颖.) | 吴武臣 (吴武臣.) (Scholars:吴武臣)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

介绍了一种用于X射线安全检测的多通道电荷读出集成电路.该电路可提供32通道的探测器电荷-模拟电压转换,具有无死区时间、失调校准和低噪声特性.电路由电荷放大器增益控制、时序发生器、移位寄存器链、电荷放大器阵列、采样保持放大器和驱动器等组成.芯片采用华润上华0.6μm标准CMOS工艺实现,管芯尺寸为3.1 mm×7.1 mm,工作在3.3 MHz,5V供电和3.5V参考电压下的功耗为45 mW.测试结果表明,在25.5 pF的电荷放大器增益电容和52pF的光电二极管结电容下,电路的输出噪声性能达到90 μV (Vrms).

Keyword:

安全检测 电荷读出集成电路 死区时间 失调校准

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  • [ 1 ] [王旭]北京工业大学
  • [ 2 ] [杨洪艳]北京工业大学
  • [ 3 ] [袁颖]北京工业大学
  • [ 4 ] [吴武臣]北京工业大学

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Source :

微电子学

ISSN: 1004-3365

Year: 2013

Issue: 5

Volume: 43

Page: 602-606

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