Indexed by:
Abstract:
提出了一种发射极指分段和非均匀发射极指长、指间距组合的新型器件结构,以改善多指功率硅锗异质结双极晶体管(SiGe HBT)的热稳定性.考虑器件具有多层热阻,发展建立了相应的热传导模型.以十指功率SiGe HBT为例,运用有限元方法对其进行热模拟,得到三维温度分布.与传统发射极结构器件相比,新结构器件最高结温从416.3 K下降到405 K,各个发射指上的高低温差从7 K~8 K下降为1.5 K~3 K,热阻值下降14.67 K/W,器件整体温度分布更加均匀.
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Source :
微电子学
ISSN: 1004-3365
Year: 2010
Issue: 2
Volume: 40
Page: 305-308
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count: 5
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 10
Affiliated Colleges: