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介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求.
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微电子学与计算机
ISSN： 1000-7180
Year： 2008
Issue： 8
Volume： 25
Page： 172-175
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