Indexed by：
Abstract：
提出了一种新的测试LD内损耗方法,它通过对后腔面镀高反膜,并对前腔面镀不同反射率增透膜,然后根据外微分量子效率倒数1/ηe与1/ln[1/(RfRr)的线性关系(Rf和Rr分别为前后腔面反射率)求出内损耗值.这样可以消除常用的测试LD内损耗方法中因管座反射带来的误差,使误差降低达15%.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
光电子·激光
ISSN： 1005-0086
Year： 2006
Issue： 4
Volume： 17
Page： 455-457
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 7
Affiliated Colleges：
