Indexed by：
Abstract：
在以电子束为基础的显微分析技术中,如SEM,EPMA及AES等,非导电样品在电子束辐照下产生的荷电效应会给观察和分析带来很大的困难,如造成图像畸变,严重时甚至无法成像,并给元素分析带来误差等.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
电子显微学报
ISSN： 1000-6281
Year： 2005
Issue： 4
Volume： 24
Page： 376
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： 5
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 4
Affiliated Colleges：
