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随着现代信息科学技术的发展,自旋阀、磁隧道结等自旋电子学材料及半导体量子阱等光电材料日益受到人们的关注.由于电子显微学方法在衍射、成像及谱学方面具备综合优势,近来已被广泛用于自旋电子学和量子阱光电材料研究领域,以揭示其显微结构和优异物理性能之间的内在联系.
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Source ：
电子显微学报
ISSN： 1000-6281
Year： 2005
Issue： 4
Volume： 24
Page： 244
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