Abstract：
本文提出一种基于频域光学相干层析成像技术的折射率测量方法，通过对受到折射率变化影响产生畸变的层析图进行分析，计算得到样品折射率。分析了频域光学相干层析图的畸变原因，实验记录了8 层堆叠的盖玻片样品的频域OCT 层析图。通过分析计算带有轴向畸变的层析图，获得了盖玻片折射率的测量结果。对层析图的轴向畸变进行矫正，获得了无畸变结构的层析图。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
Year： 2015
Page： 531-531
Language： Chinese
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 11
Affiliated Colleges：
