Abstract：
＜正＞ 一、概述 CPU的测试是一个复杂问题。它既非逻辑门电路的简单集合,也没有存储器那样规整的结构。很难用一个简单的故障模型,来分析、检测CPU的失效模式。它具有上一代一些小型计算机的全部特点。但是,结构上的限制,不可能深入到芯片内部的每一节点,检测故障所在,使得故障的可控制性与可观察性大大降低。这些都给CPU测试带来很多困难。然而,CPU的可编程特征,却为用户提供了测试CPU功能的有利途径。尽管CPU的构成相当复杂,但整个CPU还是可以看作一个执行一系列基本操作的晶体管门的集合,
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电子测量技术
Year： 1984
Issue： 05
Page： 29-37
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