Indexed by：
Abstract：
本文提出了一种基于扫描电镜(SEM)的原位拉伸EBSD-DIC微观变形研究方法,对Inconel 718合金在原位拉伸变形过程中局部应变分布演化与形貌、晶粒取向、晶界演化的之间的关联性进行了研究,并对比了DIC方法与KAM方法研究局部应变分布的异同.实验结果表明:Inconel 718合金在原位拉伸过程中以滑移及晶粒转动等方式协同变形,在晶界及部分晶粒内出现了应变集中.晶界处应变演化规律DIC方法与KAM方法的结果保持一致,而晶粒内部的应变分布更适合使用DIC方法表征.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
电子显微学报
ISSN： 1000-6281
Year： 2021
Issue： 5
Volume： 40
Page： 589-594
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 36
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 21
Affiliated Colleges：
