The　field　emission　tip　arrays　with　sub-100　nm　apices　(nanoFEAs)　on　single　crystal　cerium　hexaboride　(CeB6)　surface　were　fabricated　by　the　focused　ion　beam　(FIB)　milling　microtechnology.　The　surface　morphologies　and　field　emissions　of　the　nanoFEAs　are　systematically　characterized.　FIB　milling,　similar　to　the　physical　stripping　process,　can　fabricate　the　nanoFEAs　single　crystal　CeB6　with　uniform　morphologies.　The　nanoFEAs　with　sharp　tips　of　size　about　50　nm　demonstrate　the　lowest　turn-on　electric　fields　(2.0　V/mu　m),　as　well　as　a　high　current　(　＞　1　mA)　at　the　field　of　6.7　V/mu　m　and　a　high　stable　emission　current.　Such　excellent　performances　make　CeB6　nanoFEAs　promising　candidates　for　application　in　field　emission　electronics.