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本发明公开了一种应力沿深度分布的微磁检测方法,利用不同微磁参量的敏感深度随励磁频率变化的特性,结合微磁参量的敏感深度归类和应力的逐层反演方法,实现应力沿深度分布的微磁测量。首先,通过实验构建不同检测深度和微磁参量及其励磁频率的关系曲面,依据敏感深度不同,将不同励磁频率条件下的微磁参量进行归类,形成适用于不同敏感深度的独立微磁参量集;其次,标定不同励磁频率条件下各微磁参量和拉、压应力的关系曲线;最后,利用实测的微磁参量数值,基于两类实验标定结果,实现应力的逐层反演,得到应力沿深度的分布结果。本发明可以为铁磁性零部件表面的残余应力沿深度分布的测量提供一种有效的微磁检测手段。
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Patent Info :
Type: 发明申请
Patent No.: CN202210352566.5
Filing Date: 2022-04-05
Publication Date: 2024-05-28
Pub. No.: CN114740081B
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 授权
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