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一种测量蜗轮副双啮误差的结构属于齿轮测量技术领域。本发明介绍了此蜗轮副双面啮合测量仪的系统结构，蜗轮副双啮仪测量中心距和中心高可根据被测工件尺寸进行调节，因此可测量多种规格的蜗轮蜗杆。仪器可以将测量通过测量软件实时呈现出来，测量范围广，测量精度高，可满足生产现场蜗轮蜗杆的快速测量。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN202110071864.2
Filing Date： 2021-01-20
Publication Date： 2022-04-19
Pub. No.： CN112902849B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
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