Indexed by:
Abstract:
本发明公开了考虑非比例路径附加损伤的多轴短裂纹扩展全寿命预测方法,选取权临界面为临界面,利用该临界面上的损伤参量来来表征短裂纹扩展驱动力;选取临界面上对应的加载路径中距离最远的两点并求出这两点间的距离为最大等效应力范程,将最大等效应力范程进行修正,得出等效应力,用Newman闭合公式来考虑裂纹闭合,结合之前求出的等效应力,算出有效应力强度因子;通过拟合单轴加载下的短裂纹扩展速率与应力强度因子数据,得出单轴短裂纹扩展曲线,并以此为基线进行下一步计算;基于Paris公式计算不同应力比、不同加载路径等恒幅加载状态下的短裂纹扩展全寿命。本方法可以很好的描述非比例加载下的附加损伤对裂纹扩展的影响。
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Patent Info :
Type: 发明申请
Patent No.: CN202110999652.0
Filing Date: 2021-08-29
Publication Date: 2023-11-10
Pub. No.: CN113866016B
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 授权
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count:
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 3
Affiliated Colleges: