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本发明公开了基于激光追踪仪多站位测量系统的大型精密转台标定方法，搭建激光追踪仪多站位测量系统。基于Levenberg‑Marquardt算法的激光追踪仪站位自标定。参数μi选择。激光追踪仪站位坐标优化。转台转动轴圆心拟合。大型精密转台的定位精度标定。本发明利用Levenberg‑Marquardt算法及协方差矩阵的奇异值分解变换方法优化激光追踪仪站位坐标。通过建立优化后的激光追踪仪站位坐标与转台转动角度之间的几何关系模型标定转台的定位精度。所提出的基于激光追踪仪多站位测量系统的标定转台定位精度的方法适用于转台与三轴机床不联动的情况，特别适用于大型高精密转台。同时此方法能够为多轴机床的标定提供理论基础。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201910161462.4
Filing Date： 2019-03-04
Publication Date： 2021-02-02
Pub. No.： CN109884659B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权 ; 权利转移
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