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Abstract:
本实用新型涉及一种用于红外探测器制冷曲线的测试系统,它是用于测量红外探测器制冷装置的,通过测量得到温度-时间关系,进一步得到制冷电流的热传递函数,为做嵌入式温控系统确定温控算法参数做准备。该测试系统的硬件平台包括由Agilent34401A数字万用表、LPS-305直流稳压电源、PC机、红外探测器装置;在labview2010开发软件环境中进行编程。Agilent34401A数字万用表和LPS-305直流稳压电源通过GPIB-USB总线和RS-232串口总线与PC机连接好,同开发好的测试系统组合工作,组成整个测试系统;此系统以操作者为主导,通过控制测试系统用户界面,程控仪器设备,进行红外探测器制冷曲线的测试;该系统是一套性能可靠,界面友好,操作简单的测试系统,并满足产品生产的要求。
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Patent Info :
Type: 实用新型
Patent No.: CN201220462949.X
Filing Date: 2012-09-12
Publication Date: 2013-04-10
Pub. No.: CN202869835U
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 未缴年费
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