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一种透射电镜中纳米线原位压缩下力学电学性能测试装置，属于纳米材料性能原位检测领域。该发明设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统，对单根纳米线以及其它一维纳米材料在透射电镜中实现原位压缩，并在压缩过程中可以利用透射电镜的成像系统获得纳米尺度甚至在原子尺度上的变形信息，而且还可以实现弹性、塑性、弯曲以及断裂的力学性能定量测量，同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量，实现在压缩过程中的电荷输运性能的研究。本发明结构简单，便于操作，应用范围广，具有直观性和定量检测的特性，便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN200710119315.8
Filing Date： 2007-07-20
Publication Date： 2010-08-04
Pub. No.： CN101113946B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 未缴年费
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