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立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法属于宽带隙半导体薄膜掺杂领域。克服 宽带隙超硬材料c-BN薄膜很难实现p型掺杂的困难,实现c-BN薄膜的有效 p型掺杂。本发明步骤:(1)使用低压气相薄膜生长设备衬底上沉积一层本 征c-BN薄膜,这层本征BN薄膜:薄膜厚度为200~800nm;立方相含量在 40~95%;电导率在10-9~10-11Ω-1cm-1;(2)选用金属铍离子作为p型掺杂 剂,离子注入铍的能量范围为80~200千电子伏特;离子注入铍的剂量范围 为5×1015~1×1017ion/cm2。(3)慢速退火:慢速退火温度为600~900℃;恒 温时间为40~60分钟。(4)将经过步骤(3)退火的薄膜再进行激光辐照二 次杂质激活工艺:退火温度为1000~1050℃,退火时间为20~40秒钟。本发 明使立方相含量在40%以上的c-BN薄膜的电导率增大近十万倍。
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Type: 发明授权
Patent No.: CN200710178682.5
Filing Date: 2007-12-04
Publication Date: 2009-04-29
Pub. No.: CN100483626C
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 未缴年费
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