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一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置，属于纳米材料性能原位检测领域。该实用新型设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统，对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸，并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统，原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息，而且还可以实现弹性，塑性和断裂的力学性能定量测量，同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量，实现在拉伸过程中的电荷输运性能的研究。本实用新型结构简单，便于操作，应用范围广，具有直观性和定量检测的特性，便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。
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Type： 实用新型
Patent No.： CN200720169809.2
Filing Date： 2007-07-20
Publication Date： 2008-05-28
Pub. No.： CN201066335Y
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 未缴年费
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