Indexed by：
Abstract：
本发明涉及一种基于工业CT扫描得到的小模数齿轮重建STL模型的数据处理方法及单项偏差测量方法，属于精密测试技术与仪器领域。本发明以工业CT扫描小模数齿轮重建得到的STL模型作为研究对象，利用齿轮的设计IGES模型，对重建得到的STL模型进行点云化处理、配准、分割、齿面重建、得到能够用于齿轮单项偏差评定的齿距、齿廓和螺旋线偏差数据，实现了利用工业CT对小模数齿轮测量数据的误差评定。拓展了工业CT测量的应用领域，解决了现有齿轮测量方法对小模数齿轮进行测量时可能存在的测量盲区的问题。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明申请
Patent No.： CN202411074350.2
Filing Date： 2024-08-06
Publication Date： 2024-11-15
Pub. No.： CN118967772A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 实质审查
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 0
Affiliated Colleges：
