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本发明公开了一种基于磁巴克豪森噪声双峰湮灭频率的硬化层厚度测量方法，属于微磁无损检测技术领域；利用含硬化层铁磁性材料的磁巴克豪森噪声包络在特定激励频率由双峰转变为单峰的特点，评估铁磁性材料的表面硬化层厚度；使用励磁装置采集不同频率下的磁巴克豪森噪声信号；将采集到的磁巴克豪森噪声信号进行处理，得到双高斯函数的系数a<subgt;1</subgt;和a<subgt;2</subgt;并进一步得到磁巴克豪森噪声双峰消失的激励频率区间；对激励频率区间进行频率细化重新检测磁巴克豪森噪声，得到较为准确的磁巴克豪森噪声双峰消失激励频率。建立磁巴克豪森噪声双峰湮灭激励频率与铁磁性材料硬化层厚度之间的关系；基于磁巴克豪森噪声双峰湮灭频率预测铁磁性材料的硬化层厚度。
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Type： 发明申请
Patent No.： CN202410464645.4
Filing Date： 2024-04-17
Publication Date： 2024-08-09
Pub. No.： CN118465044A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 实质审查
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