Indexed by：
Abstract：
本发明提供了一种在透射电子显微镜(TEM)中原位测量一维(1D)纳米材料疲劳性能与微观结构相关性的装置及方法,属于原位测试与表征技术领域 纳米材料的微观结构。 该装置包括芯片部分、支撑部分和控制电路。 支撑部分是设置在传输样品架上的支架和电缆,电路部分由连接到芯片的电缆和能够施加不同波形、可变电压和可变频率的电源组成。 该设计突破了传统的机械应力驱动的疲劳性能测试方法,利用电压形成的电场,调节电压大小和频率,实现不同振幅和周期的可控调节,使一维纳米材料在电场中振动。 现场实现疲劳性能测试。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明申请
Patent No.： US17/990962
Filing Date： 2022-11-21
Publication Date： 2024-02-01
Pub. No.： US20240035988A1
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 实质审查
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 0
Affiliated Colleges：
