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为探究织构对6061-T6铝合金X射线应力测试的影响,本工作对等强梁表面的预置应力采用X射线进行应力测试,利用电子背散射衍射(EBSD)技术和晶体取向成像分析技术,根据晶粒取向和X射线衍射的角度关系,分析了织构对X射线衍射晶粒群内晶粒数目的影响,进而分析衍射晶粒数目对晶粒群微观应变均匀性和微观应力均匀性的影响.结果表明,由于晶粒的择优取向,当X射线衍射晶粒群的晶体取向在ψ=0～15°范围内时,X射线衍射晶粒群内晶粒数目较少,晶粒群之间微观应变和微观应力不均匀,使得X射线测试得到的衍射角变化不能反映由宏观应力所引起的衍射角变化,进而导致应力的测试精度降低.
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材料导报
ISSN： 1005-023X
Year： 2020
Issue： 20
Volume： 34
Page： 20081-20085
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count： 2
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