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王影 (王影.) | 朱满康 (朱满康.) | 马丙闯 (马丙闯.) | 侯育冬 (侯育冬.) (Scholars:侯育冬) | 程蕾 (程蕾.) | 赵军 (赵军.)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

采用固相合成法制备CuAl1-xCrxO2陶瓷.通过XRD、XPS、电学阻抗谱和Hall效应等测试方法对陶瓷的物相结构、元素价态、电学性能等进行了研究.结果表明:所制备的样品的主要相组成是CuAlO2和Cu2O,同时,也有少量Cu2+存在.样品的电导率随Cr掺量的增加显示先增加(x=0~0.02)后减小(x=0.02 ~0.05)的趋势,其影响因素包括Cu离子价态和载流子迁移率.

Keyword:

XPS CuAlO2 阻抗谱 霍尔效应

Author Community:

  • [ 1 ] [王影]北京工业大学
  • [ 2 ] [朱满康]北京工业大学
  • [ 3 ] [马丙闯]北京工业大学
  • [ 4 ] [侯育冬]北京工业大学
  • [ 5 ] [程蕾]天津航空机电有限公司
  • [ 6 ] [赵军]天津航空机电有限公司

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Source :

人工晶体学报

ISSN: 1000-985X

Year: 2016

Issue: 7

Volume: 45

Page: 1746-1750

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