• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
搜索

Author:

张跃宗 (张跃宗.) | 李春霞 (李春霞.) | 王瑞春 (王瑞春.) | 邓海涛 (邓海涛.) | 冯士维 (冯士维.) (Scholars:冯士维) | 郭春生 (郭春生.) | 祝炳忠 (祝炳忠.)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

将功率循环方法应用于大功率LED焊料层的可靠性研究,对比分析了在650mA,675mA和700mA电流条件下大功率LED焊料层的热阻退化情况。实验结果表明,循环达到一定次数,大功率LED热阻才开始退化,并呈线性增加,从而引起光通量下降;另外,失效循环次数与电流值之间呈线性关系,并外推出正常工作条件下焊料层寿命为90 968次。对样品进行了超声波检测(C-SAM),发现老化后LED焊料层有空洞形成,这说明空洞是引起热阻升高的主要原因。

Keyword:

功率循环 热阻 大功率LED 焊料层

Author Community:

  • [ 1 ] 深圳信息职业技术学院
  • [ 2 ] 北京工业大学电子信息与控制工程学院
  • [ 3 ] 勤上光电股份有限公司

Reprint Author's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Source :

微电子学

Year: 2016

Issue: 03

Volume: 46

Page: 429-432

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count:

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 2

Online/Total:782/10529157
Address:BJUT Library(100 Pingleyuan,Chaoyang District,Beijing 100124, China Post Code:100124) Contact Us:010-67392185
Copyright:BJUT Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd.