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为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究.通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命；给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命.最后分析了试验样品性能参数退化的原因.试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考.
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半导体技术
ISSN： 1003-353X
Year： 2013
Issue： 7
Volume： 38
Page： 551-555
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
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