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石照耀 (石照耀.) (Scholars:石照耀) | 张斌 (张斌.) | 费业泰 (费业泰.)

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CQVIP PKU CSCD

Abstract:

为探究阿贝原则在现代超精密制造和测量中的适应性,回顾了古典阿贝原则及其扩展,剖析了要素布局产生的一次误差,研究了二维长度测量中的阿贝原则。通过分析测量系统的标准量、被测量、瞄准点、读数点、导向面5个要素的不同布局产生的误差,发现当标准量和被测量按经典阿贝原则要求处于同一条直线上,而其余要素不在这条直线上时,也会产生一次误差。提出了瞄准共线、读数共线、导向共线以及阿贝臂误差、瞄准臂误差、读数臂误差、导向臂误差和阿贝综合误差等概念。揭示了阿贝原则的隐含条件,重新表述了阿贝原则。讨论了上下堆叠式和共平面式二维结构的阿贝原则适应性,提出了一种提升工具显微镜精度的简明方案,介绍了一种减小阿贝误差的共平面...

Keyword:

阿贝误差 阿贝原则 二维阿贝原则 一次误差

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  • [ 1 ] 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院
  • [ 2 ] 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院

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Source :

仪器仪表学报

Year: 2012

Issue: 05

Volume: 33

Page: 1128-1133

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