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介绍一种晶体管参数测量平台的方案,给出硬件组成和软件流程。使用ARM处理器及WinCE系统作为软硬件基础,以S3C2410为核心控制电路,利用12位D/A模块TLV5618产生稳定的控制电压、10位A/D模块TLC1543完成电压测量。将晶体管参数测量平台与单片机及传统示波器测量平台做了比较,其测量精度高于示波器,并且在对数据的分析处理能力及速度上ARM优于单片机,结果表明该系统性能可靠、速度快、精度高且便携。
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现代电子技术
Year： 2010
Issue： 06
Volume： 33
Page： 40-42
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