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模拟开关电源DC/DC模块内部电路为开关电源中的功率器件-垂直导电双扩散MOS (VDMOS) 和肖特基二极管(SBD)-提供恒定电应力,并对其施加温度应力进行加速寿命试验.采用恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对开关电源中功率器件VDMOS和SBD的可靠性进行评价;对其失效机理一致性进行分析,计算其失效激活能;并在失效机理一致的范围内外推正常使用条件下的寿命,为开关电源整体可靠性评价提供依据.
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微电子学
ISSN： 1004-3365
Year： 2010
Issue： 2
Volume： 40
Page： 278-282
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
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