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何洪文 (何洪文.) | 徐广臣 (徐广臣.) | 郭福 (郭福.) (Scholars:郭福)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

向Sn3.8Ag0.7Cu无铅焊膏中添加质量分数为1%的Sb金属粉末,研究了其焊点在电流密度为0.34×104 A/cm2、环境温度150 ℃下的电迁移行为.通电245 h后,阴极处钎料基体与Cu6Sn5 IMC之间出现一条平均宽度为16.9 μm的裂纹,阳极界面出现凸起带,钎料基体内部也产生了裂纹.结果表明:1%Sb的添加使焊点形成了SnSb脆性相,在高电流密度和高温环境下产生裂纹,缩短了焊点寿命,降低了电迁移可靠性.

Keyword:

无铅焊点 电子技术 电迁移 可靠性

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  • [ 1 ] [何洪文]北京工业大学
  • [ 2 ] [徐广臣]北京工业大学
  • [ 3 ] [郭福]北京工业大学

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Source :

电子元件与材料

ISSN: 1001-2028

Year: 2008

Issue: 8

Volume: 27

Page: 65-67

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