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石磊 (石磊.) | 吴武臣 (吴武臣.) (Scholars:吴武臣)

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CQVIP

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目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量。

Keyword:

细分 CMOS图像传感器 光栅传感器 测量

Author Community:

  • [ 1 ] 北京工业大学集成电路与系统集成实验室
  • [ 2 ] 北京工业大学集成电路与系统集成实验室 北京100022安阳工学院电子信息与电气工程系
  • [ 3 ] 河南安阳455000
  • [ 4 ] 北京100022

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安阳工学院学报

Year: 2007

Issue: 01

Page: 28-31

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