Indexed by：
Abstract：
本文提出了一种基于遗传算法的逻辑电路测试生成算法,利用遗传算法的全局寻优特点进行集成电路的测试生成,并与确定性算法进行了比较,所得到的实验结果表明,遗传算法可以在比较小的测试矢量集下得到比较高的故障覆盖率,是一个有效的测试生产算法.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
首都师范大学学报（自然科学版）
ISSN： 1004-9398
Year： 2007
Issue： 5
Volume： 28
Page： 22-25,29
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： 1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 4
Affiliated Colleges：
