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通过电学测量方法得到了半导体功率发光二极管温升与热阻的加热响应曲线.曲线出现一个或多个台阶,反映了其内部的热阻构成与器件物理结构.同时采用遮光法对器件温升及热阻进行了修正.还应用瞬态加热响应原理对功率管的封装结构进行了监测.
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Source ：
半导体学报
ISSN： 0253-4177
Year： 2006
Issue： 2
Volume： 27
Page： 350-353
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