Indexed by：
Abstract：
文中报道了绝缘蓝宝石衬底上的GaN基发光二极管(LEDs)中,由于横向电阻的存在造成了靠近n型电极台面边缘局部区域电流拥挤,为此从焦耳热和金属电迁移两方面研究了电流拥挤效应对器件可靠性的影响,加速寿命实验结果表明:电流均匀扩展可以使可靠性得到有效改善.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
激光与红外
ISSN： 1001-5078
Year： 2006
Issue： 6
Volume： 36
Page： 491-494,503
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 36
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： 20
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 12
Affiliated Colleges：
