Indexed by：
Abstract：
Nose-to-nose校准技术的理论基础是:kick-out脉冲正比于取样示波器系统的冲激响应.Jan verspecht博士和美国国家标准技术研究院(NIST)用S参数法对此进行了详尽的分析.本文从电路理论分析入手,对kick-out脉冲产生的机理重新进行了分析,得出了十分有用的数学表达式和结论:kick-out 脉冲不仅与电路参数有关,而且与选通脉冲有关.这一结论并被计算机的仿真所证实,这用以前的理论是无法解释的.可以说本文结论进一步完善了NTN校准技术的理论依据.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
电子学报
ISSN： 0372-2112
Year： 2005
Issue： 3
Volume： 33
Page： 480-483
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： 13
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 11
Affiliated Colleges：
