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本文研究了两种不同系统因素影响下完全检验的质量最优问题，采用有两种不同控制界限的控制图来控制生产过程，并根据完全检验的特点，提出了一种新的最优模型。Hui(1991)提出的最优模型是本文的最优模型的特殊情况，并且本文建立的最优模型还可推广到两种以上不同的系统因素下影响的情况。
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数理统计与管理
ISSN： 1002-1566
Year： 2001
Issue： 1
Volume： 20
Page： 17-23
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