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用热壁外延法在氟金云母上生长出了高质量C60薄膜,用原子力显微镜观察了样品的表面形貌,并测量了不同厚度C60薄膜的紫外-可见吸收光谱.由近带隙区的透射及反射光谱,经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系,并利用Tauc公式确定了C60薄膜的光学带隙.
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材料科学与工程
ISSN： 1673-2812
Year： 2000
Issue： z2
Volume： 18
Page： 832-834
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