Abstract：
文中首先简介了＂Bennia-Riad”准则和扩展的＂Bennia-Riad”准则;其次介绍了基于扩展的＂Bennia-Riad”准则的高通系统的反卷积问题;最后介绍了基于＂Bennia-Riad”准则的带通系统的反卷积问题
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电子测量技术
ISSN： 1002-7300
Year： 2000
Issue： 1
Page： 19-21
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