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汤云晖 (汤云晖.)

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<正>介孔材料是20世纪90年代迅速兴起的新型纳米结构材料,是目前材料学科的研究热点之一。通过小角度X射线衍射(XRD)测试,可以判定介孔材料的结构,空间群,有序度。本文在SHIMADZU X-RAY 7000S衍射仪上进行介孔材料的小角度(0.5-10°)衍射,发现在无小角附件的情况下也可获得小角衍射数据,但测量条件的选择对结果影响很大,需要选择最佳测量条件。本文尝试了狭缝、扫描模式、扫描速度、步长、管电压和管电流等测量条件,寻找到了合适的测量条件:采用0.1°发散狭缝,0.1°防散射狭缝,0.15mm接收狭缝,步长0.02°,连续扫描模式,扫描范围0.5°-10°,扫描速度0.5

Keyword:

射线衍射 小角度 介孔材料 测量条件

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  • [ 1 ] 北京工业大学

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Year: 2008

Language: Chinese

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