Abstract：
本文利用透射电子显微镜(TEM)对碳热还原反应生成的一维SiC纳米材料的微结构和形貌进行研究和表征,从实验中发现SiC纳米线中含有大量的孪晶、高密度的层错、一维无序等亚结构,以及这些结构在一维方向的交替生长,利用 V-L-S生长机理对SiC纳来线的一维生长机制讲行了探讨。
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Year： 2005
Language： Chinese
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