Cube　texture　formation　of　Cu-33　at.%Ni　alloy　substartes　and　CeO2　buffer　layer　prepared　by　chemical　solution　deposition　on　the　textured　substrate　were　investigated　by　electron　back　scattered　diffraction　(EBSD)　and　XRD　technics　systematically.　The　results　shown　that　a　strong　cube　textured　Cu-33at.%Ni　alloy　substrate　with　the　cube　texture　fraction　of　99.8　%　(＜　10　degrees)　was　obtained　after　annealing　at　1000　degrees　C　for　1　h.　The　full　width　half　maximum　(FWHM)　values　for　the　X-ray　(111)　phi-scan　and　(002)　omega-scan　in　this　substrate　were　7.31　degrees　and　5.51　degrees,　respectively.　Furthermore,　the　cube　texture　fraction　of　epitaxially　grown　CeO2　buffer　layer　was　95　%　(＜10　degrees),　and　the　FWHM　values　of　phi-scan　and　omega-scan　being　6.98　degrees　and　5.92　degrees,　respectively.