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介绍在中性区光电导调制下实现用高频C-V仪测量M／a-Si：H肖特基势垒参数的方法，把所测结果与其他方法测量值作了比较．对Al/a-Si：H势垒异常现象也进行了描述．
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Source ：
应用科学学报
Year： 1997
Issue： 02
Page： 187-192
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