Abstract：
利用光电法直接测量超滤过程中膜表面边界层的浓度分布,在此基础上计算出搅拌和非搅拌条件下浓差极化边界层阻力和膜阻力,并讨论了它们对通量的影响。发现边界层阻力不仅和其厚度有关,还和其形成过程有关。
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Source ：
北京工业大学学报
Year： 1990
Issue： 03
Page： 44-51
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