Abstract:
<正> 一、引言用计算机控制的LSI测试系统,已经有较多的使用。然而,大多数这样的系统,是面向LSI制造厂家或微计算机系统制造厂家的。表1列出了国外三类LSI测试系统的一些技术数据。
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Source :
电子测量技术
Year: 1984
Issue: 01
Page: 10-18
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count:
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 10
Affiliated Colleges: