Abstract：
透射电子显微镜中通过对材料微纳结构的成像，来研究材料的内在结构并揭示其真正的物理性质。透射电子显微学中的成像方法多样化，包括明场像，暗场像，环形暗场像，能量过滤成像，以及高角度环形暗场探测/环形明场探测的扫描透射成像等等。
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Year： 2016
Page： 1-2
Language： Chinese
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