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本发明公开了一种在电子显微镜中原位弯曲变形微纳样品的装置及方法，属于扫描/透射电子显微镜配件及微纳米材料力学性能测量研究领域。包括支撑部分、驱动部分、弯曲加载部分和样品载台部分四部分。纳米材料一端固定在样品载台前端悬空部分，另一段为自由端。通过加热弯曲的双金属片带动弯曲加载部分推动纳米材料自由端，使纳米材料达到弯曲变形效果。本发明将双金属片与样品分开固定解决了原位弯曲纳米材料过程中力学稳定性差，样品容易在变形过程中移动的问题，提高了固定样品和原位成像的稳定性，实现对样品弯曲变形，并同时观察材料在变形过程中的结构演变。在实现对单根/多根纳米线轴弯曲变形的同时，原位观察材料在变形过程中的结构演变。
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Type： 发明申请
Patent No.： CN202310522888.4
Filing Date： 2023-05-10
Publication Date： 2023-09-01
Pub. No.： CN116678901A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 实质审查
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