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本发明公开了一种基于全局局部百分位数法的LSTM‑ED发酵过程故障预测方法。首先，对监测指标SPE进行归一化处理，然后分割阈值上下波动的时间段，对这些时间段使用全局百分位数方法进行处理，得出TSP所在的区间，然后在TSP所在的区间使用局部百分位数法进行处理，取该区间起始段的斜率最大值点即为TSP点。然后利用高斯误差线性单元模块对LSTM‑ED模型改进，最后将基于退化点TSP点的发酵数据代入基于GELU的LSTM‑ED模型中进行训练和测试，从而提高模型预测精度。
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Type： 发明申请
Patent No.： CN202211600709.6
Filing Date： 2022-12-12
Publication Date： 2023-04-25
Pub. No.： CN116011526A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 实质审查
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