Indexed by：
Abstract：
本发明公开一种基于废旧电子产品特征的信息清除参数获取方法，首先，基于目前市场典型废旧电子产品和专家知识构建特征数据案例库，包括存储介质特征数据库和信息清除特征数据库。接着，通过数据连接线对废旧电子产品进行扫描并识别待信息清除废旧电子产品的存储介质特征和信息清除特征。最后，通过废旧电子产品的上述特征与所构建的特征数据案例库的匹配获取定制化的信息清除参数，即：通过待信息清除废旧电子产品的存储介质特征匹配存储介质特征数据库中相似案例以确定覆写策略、通过待信息清除废旧电子产品的信息清除特征匹配信息清除特征数据库的相似案例以确定清除方案。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明授权
Patent No.： CN201911116909.2
Filing Date： 2019-11-15
Publication Date： 2023-04-07
Pub. No.： CN110866279B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 15
Affiliated Colleges：
